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C 60068-2-6：2010 (IEC 60068-2-6：2007)
C 60068-2-6：2010 (IEC 60068-2-6：2007)
部品信頼性センター (RCJ) 及び財団法人日本規格協会 (JSA) から，工業標準原案を具して日本工業規格
である。これによって，JIS C 60068-2-6 : 1999は改正され，この規格に置き換えられた。
JIS C 60068の規格群には，次に示す部編成がある。
JIS C 60068-1 通則
JIS C 60068-2-1 第2-1部：低温（耐寒性）試験方法（試験記号：A）
JIS C 60068-2-2 第2-2部：高温（耐熱性）試験方法（試験記号：B）
JIS C 60068-2-6 第2-6部：正弦波振動試験方法（試験記号：Fc）
JIS C 60068-2-7 加速度（定常）試験方法
JIS C 60068-2-11 塩水噴霧試験方法
JIS C 60068-2-13 減圧試験方法
JIS C 60068-2-17 封止（気密性）試験方法
JIS C 60068-2-18 第2-18部：耐水性試験及び指針
JIS C 60068-2-20 はんだ付け試験方法
JIS C 60068-2-21 第2-21部：試験−試験U：端子強度試験方法
JIS C 60068-2-27 衝撃試験方法
JIS C 60068-2-29 バンプ試験方法
JIS C 60068-2-30 温湿度サイクル（12＋12時間サイクル）試験方法
JIS C 60068-2-31 面落下，角落下及び転倒（主として機器）試験方法
JIS C 60068-2-32 自然落下試験方法
JIS C 60068-2-38 温湿度組合せ（サイクル）試験方法
JIS C 60068-2-39 第2-39部：低温，減圧及び高温高湿一連複合試験
JIS C 60068-2-40 低温・減圧複合試験方法
JIS C 60068-2-41 高温・減圧複合試験方法
JIS C 60068-2-42 接点及び接続部の二酸化硫黄試験方法
JIS C 60068-2-43 接点及び接続部の硫化水素試験方法
JIS C 60068-2-45 耐溶剤性（洗浄溶剤浸せき）試験方法
JIS C 60068-2-46 接点及び接続部の硫化水素試験−指針
JIS C 60068-2-47 第2-47部：動的試験での供試品の取付方法
C 60068-2-6：2010 (IEC 60068-2-6：2007)
JIS C 60068-2-48 第2-48部：保存の影響をシミュレートするために，環境試験方法に関するJIS規格
JIS C 60068-2-49 接点及び接続部の二酸化硫黄試験−指針
JIS C 60068-2-50 発熱供試品及び非発熱供試品に対する低温／振動（正弦波）複合試験
JIS C 60068-2-51 発熱供試品及び非発熱供試品に対する高温／振動（正弦波）複合試験
JIS C 60068-2-52 塩水噴霧（サイクル）試験方法（塩化ナトリウム水溶液）
JIS C 60068-2-53 発熱供試品及び非発熱供試品に対する低温・高温／振動（正弦波）複合試験の指針
JIS C 60068-2-54 はんだ付け性試験方法（平衡法）
JIS C 60068-2-57 時刻歴振動試験方法
JIS C 60068-2-58 表面実装部品 (SMD) のはんだ付け性，電極の耐はんだ食われ性及びはんだ耐熱性
JIS C 60068-2-59 サインビート振動試験方法
JIS C 60068-2-60 混合ガス流腐食試験
JIS C 60068-2-61 一連耐候性試験
JIS C 60068-2-64 広帯域ランダム振動試験方法及び指針
JIS C 60068-2-65 第2-65部：音響振動
JIS C 60068-2-66 高温高湿，定常（不飽和加圧水蒸気）
JIS C 60068-2-67 基本的に構成部品を対象とした高温高湿，定常状態の促進試験
JIS C 60068-2-68 砂じん（塵）試験
JIS C 60068-2-69 第2-69部：試験−試験Te：表面実装部品 (SMD) のはんだ付け性試験方法（平衡
JIS C 60068-2-70 第2-70部：指及び手の擦れによる印字の摩滅試験
JIS C 60068-2-75 第2-75部：ハンマ試験
JIS C 60068-2-77 表面実装部品 (SMD) の本体強度及び耐衝撃性試験方法
JIS C 60068-2-78 第2-78部：高温高湿（定常）試験方法
JIS C 60068-2-80 第2-80部：混合モード振動試験方法（試験記号：Fi）
JIS C 60068-2-81 第2-81部：衝撃応答スペクトル合成による衝撃試験方法
JIS C 60068-2-82 第2-82部：試験−試験XW1：電気・電子部品のウィスカ試験方法
JIS C 60068-3-1 低温試験及び高温試験を理解するための必す（須）情報
JIS C 60068-3-2 第3-2部：温度／減圧複合試験を理解するための必す（須）情報
JIS C 60068-3-3 機器の耐震試験方法の指針
JIS C 60068-3-4 第3-4部：高温高湿試験の指針
JIS C 60068-3-5 第3-5部：温度試験槽の性能確認の指針
JIS C 60068-3-6 第3-6部：支援文書及び指針−温湿度試験槽の性能確認の指針
JIS C 60068-3-7 第3-7部：支援文書及び指針−負荷がある場合の低温試験（試験A）及び高温試験
JIS C 60068-3-8 第3-8部：振動試験方法の選択の指針
C 60068-2-6：2010 (IEC 60068-2-6：2007)
Environmental testing-Part 2-6 : Tests-Test Fc : Vibration (sinusoidal)
IEC 60068-2-6 : 2007，Environmental testing−Part 2-6 : Tests−Test Fc : Vibration (sinusoidal) (IDT)
C 60068-2-6：2010 (IEC 60068-2-6：2007)
なお，対応の程度を表す記号“IDT”は，ISO/IEC Guide 21-1に基づき，“一致している”こ
JIS B 0153 機械振動・衝撃用語
注記 対応国際規格：ISO 2041，Vibration and shock−Vocabulary (MOD)
JIS C 60068-1 環境試験方法−電気・電子−通則
注記 対応国際規格：IEC 60068-1，Environmental testing−Part 1 : General and guidance (IDT)
JIS C 60068-2-47 環境試験方法−電気・電子−第2-47部：動的試験での供試品の取付方法
注記 対応国際規格：IEC 60068-2-47，Environmental testing−Part 2-47 : Test−Mounting of specimens
for vibration, impact and similar dynamic tests (IDT)
この規格で用いる主な用語及び定義は，JIS B 0153及びJIS C 60068-1によるほか，次による。
固定点 (fixing point)
計測点 (measuring points)
監視点 (check point)
C 60068-2-6：2010 (IEC 60068-2-6：2007)
基準点 (reference point)
架空の基準点 (fictitious reference point)
1点制御 (single point control)
多点制御 (multipoint control)
掃引サイクル (sweep cycle)
例 10 Hz→150 Hz→10 Hz
シグナルトレランス (signal tolerance)
基本運動 (basic motion)
C 60068-2-6：2010 (IEC 60068-2-6：2007)
実際の運動 (actual motion)
臨界振動数 (critical frequencies)
追従共振振動数 (centered resonance frequency)
制限振動数掃引 (restricted frequency sweeping)
注記 この規格では，gnの値を10 m/s2に丸める。
規定の軸に垂直な各軸方向の監視点の振動の最大振幅は，500 Hzまでは規定振幅の50 %以下，500 Hz
C 60068-2-6：2010 (IEC 60068-2-6：2007)
点の信号に対して実施し，5 000 Hz又は駆動振動数の5倍のうち低い方の振動数をカバーする測定帯域と
注記 トラッキングフィルタを使用しないでシグナルトレランスが5 %を超える場合は，デジタル制
0.25 Hzを超え5 Hz以下
C 60068-2-6：2010 (IEC 60068-2-6：2007)
0.25 Hzを超え5 Hz以下
5 Hzを超え100 Hz以下
C 60068-2-6：2010 (IEC 60068-2-6：2007)
製品規格に規定がない限り，供試品は，JIS C 60068-2-47の要求事項に従って，試験装置に取り付ける。
d) 他の既知の関連データ（例えば，JIS C 60721-3規格群）を適用
レベル及びそれに対応する振動数範囲，すなわち，折れ点 (break points) は，可能な場合は，製品規格に
10，20，35，55，100，150，200，300，500，1 000，2 000又は5 000 (Hz)
C 60068-2-6：2010 (IEC 60068-2-6：2007)
する。耐久試験時間は，許容差を0 %〜＋5 %として次の値から選択するとよい（A.1及びA.6.2参照）。
10 min，30 min，90 min又は10 h
C 60068-2-6：2010 (IEC 60068-2-6：2007)
図1−低い折れ点振動数の場合 (8〜10 Hz) の振動数対振動振幅
C 60068-2-6：2010 (IEC 60068-2-6：2007)
図2−高い折れ点振動数の場合 (58〜62 Hz) の振動数対振動振幅
C 60068-2-6：2010 (IEC 60068-2-6：2007)
製品規格に前処理を規定してもよい。その場合は，条件を規定する（JIS C 60068-1参照）。
C 60068-2-6：2010 (IEC 60068-2-6：2007)
である（JIS C 60068-2-47参照）。
C 60068-2-6：2010 (IEC 60068-2-6：2007)
b) 製品規格に規定した指定振動数 試験は，製品規格に規定した振幅及び耐久試験時間で実施する
C 60068-2-6：2010 (IEC 60068-2-6：2007)
g) 試験規格及び／又は試験手順並びに発行年（又は版） （関連試験手順）
C 60068-2-6：2010 (IEC 60068-2-6：2007)
注記2 JIS Q 17025の5.10（結果の報告）を参照。
C 60068-2-6：2010 (IEC 60068-2-6：2007)
C 60068-2-6：2010 (IEC 60068-2-6：2007)
部品のような場合は，通常，正弦波試験が適切である。ランダム試験は，JIS C 60068-2-64に規定する。
上の式から，シグナルトレランスが5 %のとき，ひずみは32 %となる。
C 60068-2-6：2010 (IEC 60068-2-6：2007)
C 60068-2-6：2010 (IEC 60068-2-6：2007)
C 60068-2-6：2010 (IEC 60068-2-6：2007)
注記 卓越振動数とは，パワースペクトルにおいて最大値を示す振動数をいう（JIS B 0153参照）。
小形の供試品の場合は，55 Hz又は100 Hz未満に共振が存在しないことが確実なとき，これらの振動数
きない場合がある。このような場合は，JIS C 60068-2-47を参照する。
試験の厳しさの選択に当たって，JIS C 60721-3規格群の情報を考慮することが望ましい（箇条5参照）。
C 60068-2-6：2010 (IEC 60068-2-6：2007)
きる。この規格では，8〜10 Hz及び58〜62 Hzの折れ点振動数を規定した。
C 60068-2-6：2010 (IEC 60068-2-6：2007)
T： 掃引サイクル当たりの掃引時間 (min)
C 60068-2-6：2010 (IEC 60068-2-6：2007)
例 定帯域幅の場合に，10 Hz帯域幅とすると応答時間Trは，次の式となり，この値は，全同調振動
C 60068-2-6：2010 (IEC 60068-2-6：2007)
a) 曲線Aは，1自由度系とみなしたときの固有振動数が10 Hz以下の高い弾性の防振装置に取り付ける
b) 曲線Bは，1自由度系とみなしたときの固有振動数が10〜20 Hzの中程度の弾性の防振装置に取り付
c) 曲線Cは，1自由度系とみなしたときの固有振動数が20〜35 Hzの低い弾性の防振装置に取り付ける
有振動数をそれぞれ8 Hz及び25 Hzと仮定して，曲線Bから外挿法によって求めた。
C 60068-2-6：2010 (IEC 60068-2-6：2007)
が望ましいが，試験時に包装材が使用できないときがある。このような場合は，JIS C 60068-2-47で詳し
C 60068-2-6：2010 (IEC 60068-2-6：2007)
C 60068-2-6：2010 (IEC 60068-2-6：2007)
C 60068-2-6：2010 (IEC 60068-2-6：2007)
55 Hz未満に共振がない小形の高剛性の部品に対して10〜500 Hzを適用する場合
55 Hz未満に共振がない小形の高剛性の部品に対して10〜2 000 Hzを適用する場合
高剛性超小形部品，例えば，樹脂封止トランジスタ，ダイオード，抵抗，コンデンサ及び集積回路に対して55〜2 000 Hzを適用する場合
注記 一つの振動数範囲に複数の振幅がある場合は，一つを適用する。 注a) 折れ点振動数未満では変位振幅，折れ点振動数を超える振動数では加速度振幅となる。折れ点振動数は，
各軸の各臨界振動数での代表的な耐久試験時間は，10 min，30 min，90 min及び10 hである。
C 60068-2-6：2010 (IEC 60068-2-6：2007)
表C.1には，10 Hz未満の振動数及び8〜10 Hzに折れ点振動数がある例を含まない。ただし，実際の製
品規格では，用途によっては5 Hz又は1 Hzから始まる例が多く見受けられる。
各軸の各臨界振動数での代表的な耐久試験時間は，10 min，30 min，90 min及び10 hである。
C 60068-2-6：2010 (IEC 60068-2-6：2007)
注記 一つの振動数範囲に複数の振幅がある場合は，一つを適用する。 注a) 折れ点振動数未満では変位振幅，折れ点振動数を超える振動数では加速度振幅となる。折れ点振動数は，
JIS C 60068-2-64 : 1997 環境試験方法−電気・電子−広帯域ランダム振動試験方法及び指針
注記 対応国際規格：IEC 60068-2-64 : 1993，Environmental testing−Part 2 : Test methods−Test Fh:
Vibration, broad-band random (digital control) and guidance (IDT)
JIS C 60721-3規格群 環境条件の分類−第3部：環境パラメータとその厳しさのグループ別分類
注記 対応国際規格：IEC 60721-3 (all parts)，Classification of environmental conditions−Part 3:
Classification of groups of environmental parameters and their severities (IDT)
JIS Q 17025 : 2005 試験所及び校正機関の能力に関する一般要求事項
注記 対応国際規格：ISO/IEC 17025 : 2005，General requirements for the competence of testing and
calibration laboratories (IDT)
IEC 60050-721 : 1991，International Electrotechnical Vocabulary−Chapter 721 : Telegraphy, facsimile and data