. JISK3850-1: 2006 空気中の繊維状粒子測定方法-第1部:光学顕微鏡法及び走査電子顕微鏡法
JISK3850-1: 2006 空気中の繊維状粒子測定方法-第1部:光学顕微鏡法及び走査電子顕微鏡法
JISK3850-1: 2006 空気中の繊維状粒子測定方法-第1部:光学顕微鏡法及び走査電子顕微鏡法

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これによって,JIS K 3850-1:2000は改正され,この規格に置き換えられたこの規格は,著作権法で保護

JIS K 3850の規格群には,次に示す部編成がある。

JIS K 3850-1 第1部:光学顕微鏡法及び走査電子顕微鏡法

JIS K 3850-2 第2部:直接変換−透過電子顕微鏡法

JIS K 3850-3 第3部:間接変換−透過電子顕微鏡法

JIS K 3850-4 第4部:固定発生源−プラントからのアスベスト飛散−繊維計数測定法

Determination of airborne fibrous particles−

Part 1 : Optical microscopy method and

scanning electron microscopy method

JIS A 1481 建材製品中のアスベスト含有率測定方法

JIS B 7551 フロート形面積流量計

JIS K 8034 アセトン(試薬)

JIS R 3702 顕微鏡用カバーガラス

JIS R 3703 顕微鏡用スライドガラス

JIS Z 8122 コンタミネーションコントロール用語

JIS Z 8401 数値の丸め方

この規格で用いる主な用語及び定義は,JIS K 3802及びJIS Z 8122によるほか,次による。

繊維状粒子のうち,空気中に浮遊しているアスペクト比(長さ/幅)3以上の粒子(JIS A 1481参照)。

びアンソフィライト)(JIS A 1481参照)。

a) 位相差顕微鏡法 位相差顕微鏡法の測定の対象及び測定方法の概要は,次による。

1) 測定の対象 この測定方法は,位相差顕微鏡を用いて繊維状粒子を測定する一般的な方法であり,

2) 測定方法の概要 この測定方法は,空気中に浮遊している繊維状粒子を5.1 a)に規定するフィルタ

b) 位相差・分散顕微鏡法 位相差・分散顕微鏡法の測定の対象及び測定方法の概要は,次による。

1) 測定の対象 この測定方法は,位相差・分散顕微鏡を用い,アスベストの屈折率を利用して,その

2) 測定方法の概要 この測定方法は,空気中に浮遊している繊維状粒子を5.1 a)に規定するフィルタ

c) 走査電子顕微鏡法 走査電子顕微鏡法の測定の対象及び測定方法の概要は,次による。

1) 測定の対象 この測定方法は,走査電子顕微鏡を用いてアスベストなどの繊維数濃度を測定する方

2) 測定方法の概要 この測定方法は,空気中に浮遊している繊維状粒子を5.1 a)に規定するフィルタ

a) フィルター フィルターは,捕集効率が直径0.3 μmの粒子に対して,99 %以上の,セルロースエステ

なお,6.3.2 a)に規定する走査電子顕微鏡法のポリカーボネートフィルター法の場合は,孔径0.8 μm

注記 アスベストの繊維数濃度の測定に使用するメンブレンフィルターは,通常孔径が0.8 μmのもの

b) フィルターホルダ フィルターホルダは,フィルターの大きさに応じたものを用い,フィルターの脱

c) 流量計 流量計は,JIS B 7551に規定するフロート形面積流量計又は基準流量計によって校正された

d) 吸引ポンプ 吸引ポンプは,目的とする吸引量及び吸引圧力をもち,脈動を生じることなく,長時間

e) 連結管 フィルターホルダ,流量計及び吸引ポンプを連結する管は,吸引圧力に耐えるものを使用し,

a) カウル付オープンフェース形 b) オープンフェース形フィルターホルダ

a) 測定場所・測定点・測定点数 試料を捕集する測定場所,測定点及び測定点数は,作業環境,大気環

b) 試料の捕集 試料の捕集は,作業環境,大気環境又は室内環境などの測定の目的に応じて,吸引流量

c) 試料捕集後の処置 規定の吸引空気量を吸引後,他の繊維状粒子によって汚染されないように試料を

置く。スライドガラスは,JIS R 3703に規定するものを,カバーガラスは,JIS R 3702に規定する厚

さNo.1を,アセトンは,JIS K 8034に規定するものを用いる。スライドガラスは,片側すりガラスの

注記 直径25 mmのフィルターの場合,アセトンの注入量は,250〜300 μl程度である。

a) 計数する繊維状粒子 計数する繊維状粒子は,長さ5 μm以上,幅(直径)3 μm未満で,アスペクト

b) 計数する繊維状粒子の幅の限界の確認 計数する繊維状粒子の幅(直径)の限界の確認は,図7の

c) 計数方法 繊維状粒子の計数方法は,次による。

d) 繊維状粒子の数の判定 繊維状粒子の数の判定方法は,次による(図8参照)。

6) 粒子が付着している繊維状粒子の場合には,粒子の幅が3 μmを超えるものは数えない。

e) 計数視野領域内境界に交差している繊維状粒子の取扱い 計数視野領域の境界内に繊維状粒子の両

繊維数濃度は,式(1)によって算出し,JIS Z 8401によって有効数字2けたに丸める。

ここに, CF: 繊維数濃度(f/L又はf/cm3)

ここに, S: 定量下限(f/L又はf/cm3)

倍で,アイピースグレーティクルを装着し,JIS A 1481の附属書1に規定しているものとする。

a) 計数するアスベスト粒子 計数するアスベスト粒子は,長さ5 μm以上,幅(直径)3 μm未満及びア

b) 計数するアスベスト粒子の幅の限界の確認 計数するアスベスト粒子の幅の限界の確認は,6.1.3 b)に

c) 計数方法 計数方法は,6.1.3 c)による。

d) アスベスト粒子の数の判定計数方法 アスベスト粒子の数の判定計数方法は,6.1.3 d)による。

e) 計数視野領域内境界に交差しているアスベスト粒子の取扱い 計数視野領域内境界に交差している

倍率100〜10 000倍及び分解能60 nmを満たすものとする。また,EDSは,けい素(リチウム)半導体検

a) SEM-1法 SEM-1法は,次による。

1) SEM試料台に5〜10 mm角の導電性カーボン両面テープを接着し,その上に5.2の方法によって試

なお,SEM試料台は,黄銅又はアルミニウム製の直径1〜3 cm,高さ1 cm程度の円柱状金属とし,

b) SEM-2法 SEM-2法は,次による。

1) 5.2の方法によって試料捕集を行ったメンブレンフィルターを10〜15 mm角に切り,金蒸着を施し

a) カーボン装着装置 b) イオンスパッタリング装置

3) 6.3.2 a)に規定するSEM試料台に導電性カーボン両面テープを5〜10 mm角に切って接着し,その上

a) 計数繊維の決定 計数繊維の決定に当たっては,まず計数繊維の最小の大きさ(下限寸法)を決め,

次に各々の繊維の種類の同定を行う。例えば,“長さ1 μm以上,幅0.01 μm以上かつ3 μm未満の繊

b) アスベストの同定 アスベストの同定は,a)で決定した計数する寸法の繊維について,EDSスペクト

c) 観察条件 6.1.3 a)で規定する位相差顕微鏡又は6.2.4 a)で規定する位相差・分散顕微鏡で観察できる同

等の大きさの繊維を計数する場合は,加速電圧15〜25 kV,倍率2 000〜3 000倍で行う。ただし,同

定のためのEDS分析時などは,必要に応じて倍率を10 000〜20 000倍に適宜上げて観察を行う。

d) 計数視野数及び計数繊維数 6.1.3 a)で規定する位相差顕微鏡又は6.2.4 a)で規定する位相差・分散顕微

a) クリソタイル b) アモサイト c) クロシドライト

d) トレモライト e) アクチノライト f) アンソフィライト

ここに, nE: 必要な計数画面数

e) 繊維状粒子の数の判定 種々の形態及び集合状態で観察される繊維状粒子の数の判定は,基本的には

ここに, CF: 繊維数濃度(f/L又はf/cm3)

a) 定量下限値 定量下限値は,式(5)によって算出する。計数画面数と吸引空気量に反比例して小さくな

b) 標準誤差の算出 得られた繊維数濃度の測定値がどの程度の標準誤差をもっているかは,式(6)によっ

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