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X 6305-1：2010 (ISO/IEC 10373-1：2006)
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これによって，JIS X 6305-1:2003は改正され，この規格に置き換えられた。
JIS X 6305の規格群には，次に示す部編成がある。
JIS X 6305-1 第1部：一般的特性
JIS X 6305-2 第2部：磁気ストライプ付きカード
JIS X 6305-3 第3部：外部端子付きICカード及び接続装置
JIS X 6305-5 第5部：光メモリカード
JIS X 6305-6 第6部：外部端子なしICカード−近接型
JIS X 6305-7 第7部：外部端子なしICカード−近傍型
Identification cards−Test methods−Part 1: General characteristics
この規格を含むJIS X 6305（規格群）は，JIS X 6301に基づく識別カード（以下，IDカード又は単にカ
基本規格とは，例えば，JIS X 6301又はIDカードを使ったアプリケーションで利用する情報記憶技術に関
ISO/IEC 10373-1:2006，Identification cards−Test methods−Part 1: General characteristics (IDT)
なお，対応の程度を表す記号(IDT)は，ISO/IEC Guide 21-1に基づき，一致していることを
JIS B 0031:2003 製品の幾何特性仕様 (GPS)−表面性状の図示方法
注記 対応国際規格：ISO 1302:2002，Geometrical Product Specifications (GPS)−Indication of surface
texture in technical product documentation (IDT)
JIS K 6258:2003 加硫ゴム及び熱可塑性ゴム−耐液性の求め方
注記 対応国際規格：ISO 1817:1999，Rubber, vulcanized−Determination of the effect of liquids (MOD)
JIS L 0848:2004 汗に対する染色堅ろう度試験方法
注記 対応国際規格：ISO 105-E04:1994，Textiles−Tests for colour fastness−Part E04: Colour fastness to
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JIS X 6301:2005 識別カード−物理的特性
JIS X 6305-2 識別カードの試験方法−第2部: 磁気ストライプ付きカード
注記 対応国際規格：ISO/IEC 10373-2，Identification cards−Test methods−Part 2: Cards with magnetic
ISO 9227:1990 Corrosion tests in artificial atmospheres−Salt spray tests
試験方法 (test method)
機能残存 (testably functional)
エンボス文字の凸部の高さ [embossing relief height (of a character)]
はく離強度 (peel strength)
耐化学薬品性 (resistance to chemicals)
寸法安定性 (dimensional stability)
粘着性又は接着性 (adhesion or blocking)
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静的曲げ強さ (bending stiffness)
動的曲げ力 (dynamic bending stress)
動的ねじり力 (dynamic torsional stress)
光透過係数，T [(optical) transmittance factor，T ]
注記 JIS X 6301: 2005まで適用できる。
不透過度（光透過濃度），DT [opacity,(optical) transmission density，DT]
DT ＝log10 1/T＝log10Φj / Φτ
注記 JIS X 6301: 2005まで適用できる。
通常の使用 (normal use)
カード技術及び個人情報の記憶媒体に適したカードリーダライタ側の処理を含むIDカード（JIS X 6301
ほかに規定がない場合，試験は温度23 ℃±3 ℃，及び相対湿度40 %〜60 %の環境で行う。
X 6305-1：2010 (ISO/IEC 10373-1：2006)
試験装置は，測定子の直径が3 mm〜8 mmで先端が平たんなアンビル及びスピンドルを備えた，精密さ
部端子付きICカード），又はその他の突起部がない位置で行う。マイクロメータの測定力は，3.5 N〜5.9 N
X 6305-1：2010 (ISO/IEC 10373-1：2006)
a) JIS B 0031に従った，平均表面粗さが3.2 μm以下の定盤。
b) 精密さが2.5 μmの測定装置。
c) 2.2 N±0.2 Nの荷重がかけられるもの。
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例 適切な板としては，接着テープが付いた60 mm×90 mm×2 mmのアルミニウム裏当て板がある。
図3に示すように，カードを切断するか，又は層を貫く切れ目を入れ，幅10 mm±0.2 mmの試験片を作
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図6に示すように，最初及び最後の5 mmの部分並びに長さ1 mm以下のはく離強度測定値（スパイク）
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a) 5 %の食塩水（純度98 %以上のNaClを使用する。）
b) 5 %の酢酸水（純度99 %以上のCH3COOHを使用する。）
c) 5 %の炭酸ナトリウム水溶液（純度99 %以上のNa2CO3を使用する。）
d) 60 %のエチルアルコール水溶液（純度93 %以上のCH3CH2OHのエタノールを使用する。）
e) 10 %の砂糖水（純度98 %以上のC12H22O11を使用する。）
B液（JIS K 6258による。）
g) 50 %のエチレングリコール水溶液（純度98 %以上のHOCH2CH2OHを使用する。）
b) 人工汗液（両溶液共に，JIS L 0848に従って準備する。）
5.4.1.1に列記した各々の溶液を20 ℃〜25 ℃の温度に保持し，カードを1分間浸す。
ISO 9227: 1990に従って，キャビネット内に取り付けたカードに塩水を24時間噴霧する（5.4.1.2参照）。
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一番上のカードの表面に，2.5 kPa±0.13 kPaの均一な力を加える。
積み重ねたカードを40 ℃±3 ℃，40 %〜60 %RHに保持した環境に48時間放置する。
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図7においてカードの右側3 mm以内の領域全体に0.7 Nの荷重(F)を1分間かける。
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注記1 hv及びhwは，両方ともカードの下面で測定する。 注記2 カードの耐久性試験において，プラスチックカード材の曲げ試験に互換性をもたせるために，試験
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基本規格に規定がない場合には，最小たわみhvが2.00 mm±0.50 mmとなるように，装置の開始位置を
基本規格に規定がない場合には，最小たわみhvが1.00 mm±0.50 mmとなるように，装置の開始位置を
X 6305-1：2010 (ISO/IEC 10373-1：2006)
X 6305-1：2010 (ISO/IEC 10373-1：2006)
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5.10.1 JIS X 6301:2005を含むJIS X 6301の旧版に適合するための不透過度
口径8 mm，スペクトル範囲400 nm〜1 000 nmで，不透過度を測定可能な積分球形光拡散室を内蔵する
基本規格で規定する領域内で，波長範囲400 nm〜1 000 nmにわたり，波長20 nm間隔で不透過度を測定
5.10.2 JIS X 6301:2005より新しいJIS X 6301に適合するための不透過度
リウムひ（砒）素］ダイオード(LED)であり，それぞれ860 nm及び950 nmの波長領域で最大
X 6305-1：2010 (ISO/IEC 10373-1：2006)
c) 赤外LEDと受光素子とは，円すい（錐）角±5°以内，かつ，±0.25 mm以内の直線状に配置され，
注記 赤外LEDに流れる順電流(IF)が絶対最大定格の90 %を超えないよう抵抗値を選定する。赤外
LEDと受光素子との間に何も存在しないときの受光素子の電流値は5 mA〜15 mAが望まし
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注記 基準材料ORM7810は，Eclipse Laboratories, 7732 West 78th Street, Bloomington, MN55439 USA
各々の波長に対し，不透過度比： Icard /Irefを記録する。
例 0.12 mW/mm2の放射照度では，20分50秒のさらし時間になる。
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せる。通過速度は，200 mm/s〜250 mm/sとする。
試験装置は，測定子の直径が3 mm〜8 mmで，先端が平たんなアンビル及びスピンドルを備えたマイク
マイクロメータを用い，3.5 N〜5.9 Nの測定力でいずれか1文字のエンボス高さを測定する。
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外観ゆが（歪）み及び盛上がり（エンボス文字を除く。）は，JIS X 6305-2 の磁気ストライプの盛上がり