Без кейворда
これによって，JIS Z 3060:2002は改正され，この規格に置き換えられた。
Method for ultrasonic testing for welds of ferritic steel
JIS Z 2300 非破壊試験用語
JIS Z 2305 非破壊試験技術者の資格及び認証
JIS Z 2345 超音波探傷試験用標準試験片
JIS Z 2350 超音波探触子の性能測定方法
JIS Z 2351 超音波探傷器の電気的性能測定方法
JIS Z 2352 超音波探傷装置の性能測定方法
この規格で用いる主な用語及び定義は，JIS Z 2300によるほか，次による。
鋼溶接部の探傷に従事する技術者は，JIS Z 2305に規定する超音波探傷試験（以下，探傷という。）の資
この規格で使用する標準試験片は，JIS Z 2345に規定するA1形標準試験片，A2形系標準試験片及び
注記 超音波探傷試験に用いる標準試験片（STB：Standard Test Blockの略）は，JIS Z 2345で規定し
体との音速差は±2 %以内，感度補正量の差が±2 dB以内とする。
試験体との音速差は±2 %以内，感度補正量の差が±2 dB以内とする。
曲率半径50 mm以上の円周継手溶接部の探傷で，使用する最大のビーム路程が150 mm以下の場合に使用
RB-SDHは，JIS Z 2350の附属書1（対比試験片）に規定する横穴対比試験片とする。
b) 濃度75 %（体積分率75 %）以上のグリセリン水溶液
探触子の公称周波数は，2 MHz以上5 MHz以下とする。ただし，超音波の減衰の著しい試験体を探傷す
a) 斜角探触子の振動子の公称寸法は，5 mm×5 mm以上20 mm×20 mm以下とする。通常使用する振動
b) 垂直探触子の振動子は円形とし，その公称寸法は，直径10 mm以上30 mm以下とする。通常使用す
e) 試験体の板厚が75 mmを超える場合で，STB音速比（V/VSTB）が0.995以上1.005以下の場合は，STB
（N dB）を測定し，（S−N dB）が−22 dB以下でなければならない。
不感帯の値は，公称周波数が5 MHzでは8 mm以下，2 MHzでは15 mm以下とする。
塗料の影響で伝達損失が12 dBを超える場合は，12 dBを超えない範囲に仕上げる。
探触子は，板厚が60 mm以下の場合は，公称周波数5 MHz，振動子寸法φ20 mmとし，板厚が60 mmを
超える場合は，2 MHz，φ30 mmとする。探傷感度は，健全部の第1回底面エコー高さを80 %とする。き
調整するための基準線とする。H線より6 dB低いエコー高さ区分線をM線とし，12 dB低いエコー高さ区
を探傷感度を調整するための基準線とする。H線より6 dB低いエコー高さ区分線をM線とし，12 dB低い
首振り走査は行わない。ただし，公称周波数2 MHz〜2.5 MHzの探触子を使用する場合には，最大エコー
動距離（長径）とする。ただし，探触子を接触させる部分の板厚が75 mm以上で，周波数2 MHzの探触
b) ゲイン調整器は，1ステップ1 dB以下で，合計の調整量は，70 dB以上とする。
a) 増幅直線性は，JIS Z 2352の6.2.2［増幅直線性（測定方法A）］で測定し，±3 %の範囲内とする。
b) 時間軸の直線性は，JIS Z 2352の6.1.1（時間軸直線性）で測定し，±1 %の範囲内とする。
c) 感度余裕値は，JIS Z 2352の6.5（垂直探傷の感度余裕値）で測定し，40 dB以上とする。
d) 電源電圧の変動に対する安定度は，JIS Z 2351の箇条6（安定性）で測定し，定格電圧±10 %の範囲
内での感度変化は，±1 dBの範囲内，時間軸の移動量は，フルスケールの±2 %の範囲内とする。
探傷器は，A.2.2に示すa)〜c) の事項について，JIS Z 2352の箇条7（定期点検）によって，装置の購入
b) 入射点の測定を容易にするため，斜角探触子の両側には，1 mm間隔でガイド目盛が付けてあるもの
c) 斜角探触子の振動子の公称寸法は，8.3.2 a) による。
d) 垂直探触子の振動子は円形とし，その公称直径は，8.3.2 b) による。
試験周波数は，公称周波数の90 %〜110 %の範囲内とする。周波数特性が広帯域の探触子は，JIS Z 2350
の7.1（周波数応答性）によって試験周波数を測定するか，又はJIS Z 2350の7.2（時間領域応答性）によ
の探触子の試験周波数は，公称周波数の80 %〜120 %の範囲とする。
間距離は，公称周波数5 MHz，公称屈折角45°探触子の場合で20 mm以下，70°の場合で27 mm以
下，2 MHz，45°の場合は25 mm以下とする。
b) 公称屈折角とSTB屈折角との差異は，気温又は標準試験片の温度が10〜30 ℃の範囲内において，±
c) 分解能は，使用する探傷器と組み合わせて，JIS Z 2352の6.4（斜角探傷における分解能）によって測
ただし，2〜2.5 MHzの分解能については，JIS Z 2352の対比試験片RB-RD又はRB-HSを使用して
測定し，3〜4 MHz，4.5〜5 MHzの分解能については，JIS Z 2352の対比試験片RB-RDを使用して測
d) 不感帯は，使用する探傷器と組み合わせたとき，JIS Z 2350の8.3.7（不感帯）によって測定し，表
振動子の公称寸法が5 mm×5 mmの場合には，使用する探傷感度で測定する。
e) ビーム中心軸の偏りは，JIS Z 2350の8.3.4（非集束探触子のビーム中心軸の偏り角）2)（STB-A1を
垂直探触子の分解能は，使用する探傷器と組み合わせたとき，JIS Z 2352の6.3.3［分解能測定方法A
公称屈折角とSTB屈折角との差異 ビーム中心軸の偏り 接近限界長さ 分解能 不感帯
この附属書は，平板突合せ継手溶接部，T継手溶接部，角継手溶接部，探傷面の曲率半径が1 000 mm以
上の円周継手溶接部及び1 500 mm以上の長手継手溶接部の超音波斜角探傷試験，垂直探傷試験及びタン
び探傷面の状態で，曲率をもたないものとする。試験体との音速差は±2 %以内，感度補正量の差が±2 dB
T： 対比試験片の厚さ d： 標準穴の直径 W： 試験片の幅
λ： 波長 S： 使用する最大のビーム路程 D： 振動子の幅
使用する斜角探触子の公称屈折角は8.3.3 b) による。
b) エコー高さ区分線の作成に当たっては，図B.2 a) 及び図B.3 a) に示す位置で探触子を走査し，それぞ
れの最大エコー高さを表示器に記録する。図B.2 b) 及び図B.3 b)，c) に示すこれらの各点を結び，エ
d) エコー高さ区分線は，表示器の10〜100 %の範囲を含むように作成する。
注記1 ①〜⑤は探触子の走査位置を示す。 注記2 探触子記号2C20×20A65は，JIS Z 2350の5.（探触子の表示法）で規定されており，公称周波数：2 MHz，
RB-41AのNo.4〜No.7の直径6.0 mmの標準穴を使用する場合は，横穴の径の違いによる感度補正量を3 dB
b) 実際の試験体上において，図B.4 a) に示す配置で，透過パルスが最も高くなるように探触子間距離を
c) 対比試験片，A1形標準試験片又はA2形系標準試験片上において，図B.4 b) に示す配置で，上述の
d) 両者のビーム路程が一致していない場合は，図B.4 c) に示すように，試験体におけるビーム路程の前
率75 %）以上のグリセリン水溶液を使用し，探傷面の最大表面粗さが100 μmRz以下では，伝達損失
b) 図B.12 a) 及び図B.12 b) に示すように，それぞれ一定の探傷感度で表示器に記録された4点を直線
c) エコー高さ区分線の本数は，6 dBずつ異なるエコー高さ区分線を3本以上作成する。
RB-41AのNo.4〜No.7の直径6.0 mmの標準穴を使用する場合は，横穴の径の違いによる感度補正量3 dB
a) 図B.13 a) に示す配置で，対比試験片における底面多重反射図形によって，底面エコーの距離振幅特
b) 次にa) と同じ探傷感度によって，図B.13 b) に示す試験体における底面多重反射図形から距離振幅特
c) a) で作成した距離振幅特性曲線とb) で作成した距離振幅特性曲線のエコー高さとの差ΔHは，対比
（体積分率75 %）以上のグリセリン水溶液を使用し，探傷面の最大表面粗さが100 μmRz以下では，伝
タンデム探傷試験に使用する探触子の公称周波数は，2 MHz又は5 MHzとする。
板厚20 mm以上40 mm未満の場合は公称屈折角70°，板厚40 mm以上の場合は公称屈折角45°とし，
さの線をM線とし，それより6 dB低い線をL線とし，6 dB高い線をH線とする。
この附属書は，探傷面の曲率半径が50 mm以上1 000 mm未満の円周継手溶接部の超音波斜角探傷試験
態で，厚さ及び曲率は試験体の±10 %以内のものとする。また，横波音速は試験体との音速差が±2 %以
L1： 5/4スキップ以上の長さ，40 mm以上とする。 T： 対比試験片の厚さ W： 試験片の幅
λ： 波長 S： 使用する最大のビーム路程 D： 振動子の幅
態で，厚さ及び曲率は試験体の±10 %以内のものとする。また，横波音速は試験体との音速差が±2 %以
W： 試験片の幅，60 mm以上とする。
使用する斜角探触子の振動子の公称寸法は，10 mm×10 mm以上20 mm×20 mm以下とする。
使用する斜角探触子の公称屈折角は8.3.3 b) による。探触子の接触面の加工を行った場合は探傷屈折角
b) 探触子の接触面の加工を行った場合の入射点の測定は，加工の影響を考慮した上で0.5 mm単位で読
1) 外面から探傷する接触面の加工を行った場合の入射点の測定は，図C.4 a) に示す位置に探触子を置
2) 内面から探傷する接触面の加工を行った場合の入射点の測定は，図C.4 b) に示す位置に探触子を置
1) 外面から探傷するときの探傷屈折角は，図C.5 a) 又はb) に示す方法によって探触子を走査し，標
2) 内面から探傷するときの探傷屈折角は，図C.5 c) 又はd) に示す方法によって探触子を走査し，標
b) エコー高さ区分線は，表示器の10 %〜100 %の範囲内において作成する。
d) エコー高さ区分線の本数は，6 dBずつ異なるエコー高さ区分線を3本以上作成する。
b) エコー高さ区分線は，表示器の10 %〜100 %の範囲内において作成する。
d) エコー高さ区分線の本数は，6 dBずつ異なるエコー高さ区分線を3本以上作成する。
b) 実際の試験体上において，図C.12 a) に示す配置で，透過パルスが最も高くなるように探触子間距離
c) 対比試験片又はA2形系標準試験片上において，図C.12 b) に示す配置で，上述のb) と同様な手順に
ス高さを50 %にするゲインの値V1（dB），及びR2位置における透過パルスの高さを50 %にするゲイ
d) 両者のビーム路程が一致していない場合は，図C.12 c) に示すように，試験体におけるビーム路程の
b) 実際の試験体上において，図C.13 a) に示す配置で，透過パルスが最も高くなるように探触子間距離
c) 対比試験片又はA2形系標準試験片上において，図C.13 b) に示す配置で，上述のb) と同様な手順に
ス高さを50 %にするゲインの値V1（dB），及びR2位置における透過パルスの高さを50 %にするゲイ
d) 両者のビーム路程が一致していない場合は，図C.13 c) に示すように，試験体におけるビーム路程の
この附属書は，探傷面の曲率半径が50 mm以上1 500 mm未満で，肉厚対外径比が16 %以下の長手継手
この附属書で用いる主な用語及び定義は，JIS Z 2300及び箇条3によるほか，次による。
使用する斜角探触子の振動子の公称寸法は，10 mm×10 mm以上20 mm×20 mm以下とする。
使用する斜角探触子の公称屈折角は，8.3.3 a) 及び次による。
b) 探触子の接触面の加工を行った場合の入射点の測定は，加工の影響を考慮した上で0.5 mm単位で読
1) 外面から探傷する接触面の加工を行った場合の入射点の測定は，図D.5 a) に示す位置に探触子を置
2) 内面から探傷する接触面の加工を行った場合の入射点の測定は，図D.5 b) に示す位置に探触子を置
b) エコー高さ区分線は，表示器の10 %〜100 %の範囲内において作成する。
d) エコー高さ区分線は，6 dBずつ異なるエコー高さ区分線を3本以上作成する。
注記 RB-43の外径898 mm，板厚44 mm
b) 実際の試験体上において，図D.18 a) に示す配置で，透過パルスが最も高くなるように探触子間距離
c) 対比試験片上において，図D.18 b) に示す配置で，上述のb) と同様な手順によって，受信側探触子が
d) 両者のビーム路程が一致していない場合は，図D.18 c) に示すように，試験体におけるビーム路程の
b) 実際の試験体上において，図D.19 a) に示す配置で，透過パルスが最も高くなるように探触子間距離
c) 対比試験片上において，図D.19 b) に示す配置で，上述のb) と同様な手順によって，受信側探触子が
d) 両者のビーム路程が一致していない場合は，図D.19 c) に示すように，試験体におけるビーム路程の
探傷面の曲率半径が150 mm以上1 500 mm未満で，肉厚対外径比が16 %以下の鋼管分岐継手溶接部の
この附属書で用いる主な用語及び定義は，JIS Z 2300及び箇条3によるほか，次による（図E.1参照）。
探傷面の曲率半径が250 mm以上1 500 mm未満で，肉厚対外径比が16 %以下のノズル継手溶接部（例
a) 使用する斜角探触子と同じ形式のもう1個の斜角探触子を，図F.2 b) に示すT-R1及びT-R2のように
め，これら二つの透過パルスのピークを記録し，直線で結ぶ［図F.2 c) 参照］。
b) a) と同じ感度で，図F.2 a) に示すように試験体上において，探傷方向と同一方向でV走査を行い，
らの透過パルス高さと，a) で求めた直線上の同じビーム路程における透過パルスの値との差を1 dB
b) 鏡板中心円上外にノズル継手がある場合（図F.6参照）F.5.2.1 a) の方法によって，各部位の実体図（開
b) 図F.1 a) に示されるセットスルータイプのノズル継手溶接部の場合は，円筒胴又は鏡板の外面から斜
c) 図F.1 b) に示されるセットインタイプのノズル継手溶接部の場合は，円筒胴又は鏡板の外面から斜角
d) 図F.1 c) に示されるセットオンタイプのノズル継手溶接部の場合は，ノズル（管台）の外面から斜角
e) 図F.1 d) に示される強め材付きノズル継手溶接部を探傷する場合には，強め材及び円筒胴又は鏡板の
この附属書で用いる主な用語及び定義は，JIS Z 2300及び箇条3によるほか，次による。
とする。一振動子集束斜角探触子及び二振動子斜角探触子は，JIS Z 2350の8.3.5（集束探触子の縦断面ビ
a) 図H.3に示すように二つのφ3.0 mm横穴01及び02を探傷し，φ3.0 mm横穴のエコー高さが最大に
b) 入射点の位置（P1）は，図H.3の二つのφ3.0 mm横穴の中心の位置d01及びd02と探触子A及びBの
a) 式(H.4)で求めた探傷屈折角（θRB）を用いて入射点（P1）から，φ3.0 mm横穴01及びφ3.0 mm横穴
b) 探触子を図H.3の位置Aにおいてφ3.0 mm横穴01からのエコー高さが最大となったときに探触子を
図H.4 a) に示すように探触子を前後走査し，きず下端部からの最大エコー高さを検出し，ビーム路程
図H.4 b) に示すように探触子を前後走査し，きず上端部からの最大エコー高さ及びきず下端部からの最
図H.4 c) に示すように探触子を前後走査し，きず上端部からの最大エコー高さを検出し，ビーム路程
この附属書で用いる主な用語及び定義は，JIS Z 2300及び箇条3によるほか，次による。
データ収録点の間隔は，必要に応じて0.5 mm，1 mm，2 mmから選定する。
参考文献 JIS B 0601 製品の幾何特性仕様（GPS）−表面性状：輪郭曲線方式−用語，定義及び表面性状
JIS Z 2344 金属材料のパルス反射法による超音波探傷試験方法通則